一种低温裂纹扩展性能表征与寿命估算的方法，该方法有三大步骤：步骤一、通过恒载试验获得材料的低温裂纹扩展性能da/dN‑ΔK曲线；步骤二、考虑低温对断裂门槛值的影响，对Walker公式进行修正，并结合二元线性回归理论拟合da/dN‑ΔK曲面，构建低温裂纹扩展性能表征模型；步骤三、考虑了谱载下的迟滞效应影响，采用Willenborg‑Chang模型和Miner线性累积损伤理论估算材料的低温谱载裂纹扩展寿命。本发明简单实用，仅需要低温环境下材料的恒载裂纹扩展性能曲线和实测飞行载荷谱，便可构建低温裂纹扩展性能表征模型，并估算谱载裂纹扩展寿命，具有重要学术意义和工程应用价值。