本发明涉及半导体循环测试技术领域，且公开了一种功率半导体循环测试系统，包括底板，所述底板的下表面四角均固定连接有支撑调节装置，所述底板的上表面设置有减震支撑装置，所述减震支撑装置的上表面固定连接有测试仪。该功率半导体循环测试系统，通过转动打开电机可以带动传动轴进行转动，进而可以带动两组第一锥齿轮进行转动，从而可以带动两组第二锥齿轮进行旋转，通过连接杆可以使齿轮进行转动，进而通过齿轮与齿条相互啮合，可以使支撑杆进行移动，通过转轴、支撑杆与保护壳的相互配合，可以使保护壳进行旋转，进而不会因保护壳妨碍该测试仪的工作，通过第一减震弹簧与第二减震弹簧的相互配合，可以对测试仪进行减震保护。