本发明公开了一种基于光通量的微孔快速检测方法和装置，该方法将透过待测微孔光通量所对应的电流测量值与透过标准微孔的光通量所对应的电流标准值进行比较，以评判待测微孔质量，能够实现微孔几何参数高效、精确的测量，可有效解决工业领域微孔快速检测的实际需求。解决传统基于显微图像技术进行微孔测量时，由于光学系统景深限制，测量结果不能全面反映细长微孔作用长度范围内几何形貌特征的缺点。能够有效地判断微孔内壁是否存在污物、毛刺、微孔尺寸是否超差、微孔是否达到磨损等问题。