本发明公开了一种OS测试系统，包括MCU模块、FPGA模块和待测试芯片IC，MCU模块包括PC端软件通讯模块、USB通信模块、PMU控制模块、TTL接口通讯模块与STM32数据通讯模块，FPGA模块包括测试通道选择模块与FPGA数据通讯模块；USB通信模块用于实现PC端软件通讯与STM32的数据通讯端口之间的物理连接；PC端软件通讯用于实现显示OS测试系统工作过程中检测到的芯片相关信息。本发明所述的一种OS测试系统，降低了检测集成电路芯片IC的成本，在实际的生产过程中，解决了通用测试设备自身体积大、控制程序繁琐、成本高等方面的不足，使生产测试的灵活性和并行测试SITE数大大提高，缩短生产测试周期，节约成本，极大的提高生产效率，带来更好的使用前景。