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专利名称存储器模块、操作其的方法和存储器模块的测试系统
申请日2018-10-12
申请号/专利号CN201811188183.9
专利权人三星电子株式会社
申请人三星电子株式会社
发明人/设计人朴焕旭;金龙进;尹珍成;李奎东
公告日2019-04-23
公告号CN109671464A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

存储器模块包括半导体存储器设备、电源管理集成电路(PMIC)和控制设备。安装在电路板上的半导体存储器设备基于电源电压操作。安装在电路板上的PMIC生成电源电压,向半导体存储器设备提供电源电压,并存储与在测试模式下半导体存储器设备正常操作时的电源电压的最小电平相关联的修调控制码。在测试模式期间,PMIC调整电源电压的电平,使用调整的电源电压测试半导体存储器设备,并基于测试结果存储调整控制码。控制设备基于从外部设备接收的第一控制信号来控制PMIC。
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