本发明涉及集成电路安全检测技术领域，为实现高故障检测率、低资源占用。对电路进行分析，其中故障注入敏感部分或关键部分采用细粒度奇偶校验，其他部分采用粗粒度奇偶校验；并提出故障检测率及资源的计算方法，对不同混合粒度校验方法检测效率进行评估，得出最优混合粒度检测方案。为此，本发明采取的技术方案是，基于混合粒度奇偶校验的集成电路故障注入检测方法，对电路不同部分采用不同粒度奇偶校验，具体根据故障注入攻击特点，对电路中故障注入敏感部分或关键部分处理的数据采用细粒度奇偶校验，对其他部分采用粗粒度奇偶校验。本发明主要应用于集成电路安全检测场合。