本实用新型公开了一种保护双列直插式封装器件引脚的工装，涉及集成电路芯片测试领域，包括平板和平行设置在平板上表面的若干龙骨，所述相邻的龙骨之间设有用于对DIP器件引脚进行外观检查的间隔，且间隔距离相等，所述龙骨用于放置DIP器件，每个DIP器件放置在单根龙骨的上表面，DIP器件的两排引脚向下放置且位于龙骨的两侧，在送筛时，将器件整齐码放入工装的龙骨上，可以很好的在转运、贮存中固定DIP器件，避免器件之间堆叠、碰撞、摩擦造成引脚弯折和损坏，有效地保护了器件引脚，由于在每一排器件间留有较大间隔，足够外观检查人员进行引脚检查，在外观检查时可以一次性对多只器件的引脚进行检查，能够大大提高引脚检查速度。