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| 专利名称 | 一种形成浅沟槽隔离的方法 |
| 申请日 | 2018-11-06 |
| 申请号/专利号 | CN201811312576.6 |
| 专利权人 | 上海集成电路研发中心有限公司 |
| 申请人 | 上海集成电路研发中心有限公司 |
| 发明人/设计人 | 曾绍海;左青云;李铭 |
| 公告日 | 2019-04-05 |
| 公告号 | CN109585358A |
| 法律状态 | 审中 |
| 专利类型 | 发明 |
| 行业分类 | 集成电路 |
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